Présence et orientation des puces à circuit intégré dans les nids

Le capteur de mesure laser LM inspecte de manière fiable plusieurs états avec un seul appareil compact

Les puces à circuit intégré (CI) doivent être placées entièrement et à l'endroit dans des nids pour être présentées à une station de test. En raison de la petite taille des cibles, une solution de mesure précise est nécessaire pour s'assurer que chaque puce est présente et orientée correctement dans chaque nid. Le capteur de mesure laser LM de Banner Engineering résout cette application difficile.

Dans la fabrication des semi-conducteurs, les puces de circuits intégrés sont testées une à une pour leur fonctionnalité et leurs performances. Les puces de circuits intégrés sont placées dans un nid puis livrées à la station de test. Et, pour terminer correctement les processus de test, les puces doivent être complètement en place et à l'endroit dans les nids.

Il existe plusieurs modes de défaillance courants dans cette application : aucune puce dans un nid, une puce inclinée dans le nid (créant une petite différence de hauteur), deux puces empilées dans un nid, et une puce à l'envers dans le nid. Plusieurs capteurs sont souvent nécessaires pour identifier ces défaillances.  Cependant, les stations de test n'ont pas de place pour les grands systèmes de vision ou de nombreux capteurs. De plus, les nids de puces se déplacent rapidement, ce qui peut être difficile à suivre pour de nombreux capteurs. Une solution de mesure rapide est nécessaire pour assurer un débit optimal de la machine.

Le capteur de distance laser LM de Banner inspecte de manière fiable plusieurs conditions avec un seul appareil compact et peut vérifier à la fois la présence et l'orientation de la puce. Avec une fréquence d'échantillonnage de 4 kHz (0,25 ms), le LM peut résoudre de manière fiable cette application à grande vitesse avec des cibles en mouvement rapide.

Vos Avantages

  • Réduction des dépenses liées aux capteurs et à la maintenance grâce à la variété présentée
  • Une plus grande précision lors de l'inspection des puces à circuit intégré grâce à une résolution de 0,004 mm et une linéarité de +/-0,06 mm
  • Des contrôles fiables malgré les fluctuations de la température ambiante

  • The precision measurement sensor offers best-in-class performance and real-world stability

  • Precise measurements in a resolution of 0.004 mm

Inspect Multiple Conditions with One Compact Device

The LM precision sensor can be taught to identify targets at a specific distance. If the sensor reads the correct distance, this means that one chip is present and properly seated in the nest. If the distance reading is smaller than expected, this means a duplicate chip has been placed on top of the first chip. If the distance is greater than expected, this indicates a missing chip. Thanks to a resolution of 0.004 mm and linearity of +/-0.06 mm, the LM can also measure very small distances that occur when a chip is present but slightly tilted (not fully seated) in the nest.

The LM also features dual teach mode. In this mode, the sensor measures both distance and light intensity. That is, the sensor can identify not only when the target is present within a specified distance, but also when it returns a certain amount of light to the receiver. Because of this, the LM can determine whether an IC chip is right side up since one side of the chip is a darker color than the other. The intensity of light returning to the sensor’s receiver is lower if the dark side of the chip is facing up.

Typically, an application like this would require multiple sensors: one to measure changes in distance, and one to detect contrast. However, the LM can identify all these conditions (missing, duplicate, incorrectly seated, and upside-down chips) with one reliable, compact device.  

Reliable Results with Unmatched Thermal Stability

In addition to measuring multiple conditions with one device, the LM also features exceptional thermal stability for reliable inspections regardless of ambient temperature fluctuations that affect the precision of other sensors. Even a few degrees of temperature change can cause other sensors’ measurement error to double. In comparison, the LM has a temperature effect of just +/-0.008 mm/°C, which enables the sensor to remain precise and continue to measure reliably regardless of external temperature changes.

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